Araştırmacılar X-ışını sinyalinin geleneksel yöntemlerle tespit edilemeyecek kadar zayıf olmasından dolayı daha önce hiç tek bir atomun röntgenini çekememişti. Ancak Ohio Üniversitesi ve Argonne Ulusal Laboratuvarı’nın ortaklığı ile ilk kez tek bir atomun röntgeni çekildi. Araştırmacılar bu keşfin dünyayı değiştireceğini iddia ediyor
Nature dergisinde yayınlanan araştırmaya göre araştırmacılar, ilk kez X ışınlarını kullanarak tek bir atomu görüntüledi. Araştırma ekibinin bu buluşundan önce, X-ışını görüntüleme teknikleri yalnızca yaklaşık 10.000 veya daha fazla atomdan oluşan grupları hedef alabiliyordu. Bu sınırın nedeni, tek bir atom tarafından yayılan X-ışını sinyalinin geleneksel yöntemlerle tespit edilemeyecek kadar zayıf olmasıydı. Bunun üstesinden gelmek için araştırmacılar, senkrotron X-ışını tarama tünelleme mikroskobu veya SX-STM adı verilen bir teknik kullandı.
SX-STM, X-ışını görüntülemesini, X-ışınları tarafından uyarılan elektronları tünelleyen son derece ince bir iletken uç kullanarak atomik yüzeyleri görüntüleyebilen özel bir mikroskopla birleştirir. Ekip, ortaya çıkan bu elektronları, tam olarak hangi atomla uğraştıklarını tanımlayabilen, temel parmak izleri gibi tanımlamakta.
Araştırmacılardan fizikçi Sai Wai Hla, bir basın açıklamasında, “Atomlar rutin olarak taramalı sonda mikroskoplarıyla görüntülenebilir, ancak X-ışınları olmadan kimse neden yapıldıklarını söyleyemez. Artık belirli bir atomun türünü, her seferinde bir atomu tam olarak tespit edebiliyor ve aynı anda kimyasal durumunu ölçebiliyoruz.” dedi. Hla’nın açıklamasına göre ekip, en son bulguları için, bir moleküler konakçı içindeki bir demir atomunu ve bir terbiyum atomunu görüntülemek için SX-STM’yi kullandı ve her ikisinin de ayrı ayrı kimyasal durumlarını tespit edebildi.
Gelecekte bu deney, bilim insanlarının ev sahibi moleküllerde bulunan atomları daha kesin bir şekilde manipüle etmelerine izin verebilir. Hla açıklamalarının devamında “Bu keşif dünyayı değiştirecek.” ifadelerine yer verdi.
Bir yanıt bırakın